透射电镜，即透射电子显微镜（TEM），电子束在穿过样品时，会和样品中的原子发生散射，样品上某一点同时穿过的电子方向是不同，这样品上的这一点在物镜1-2倍焦距之间，这些电子通过过物镜放大后重新汇聚，形成该点一个放大的实像，可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的超微结构，主要应用于物质内部的超微结构观察。